一臺靈活的儀器，用于對各種樣品尺寸、形狀、紋理和各種透明級別的樣品進行 精確、大容量的生產測量。嵌入式 NetProfiler 系統與自我診斷和自動配置功能 相結合，可確保一致、準確的性能。

• 高容量性能。用于在大容量的生產操作中測量各種樣品的理想中檔臺式機機解決方案，具有無與倫比的易操作性和靈活性

• 內嵌 NetProfiler®。一種內置系統，可以監控儀器性能，并可通過互聯網進行優化和認證，無需其他附加服務，幫助您在節省操作成本的同時輕松交換光譜顏色數據

• 同時測量 SCI/SCE 和UV校準。三光束技術能同時測量 SCI（包括鏡面反射）和SCE（排除鏡面反射），可進行相關光澤測量并進行光澤修正配色，這樣能簡易地模擬人眼對色彩的視覺效果。自動 UV（紫外光）控件可快速方便地進行自動UV D65 校準和調整,并同時進行包含/排除 UV 的測量。這有助于精確測量光學增亮或含熒光的樣品

• 完善的自動配置簡化設置并消除測量錯誤。因為系統可自動進行配置，所以實際操作中不可能采用錯誤的測量結果。另外，每次測量還會包含一個“數字簽名”，來驗證儀器的狀態。所以使用您數據的任何人　–　包括供應商、客戶或其他操作人員和機構，都將知道數據是可靠的

• 反射和透射測量。三個測量孔徑，可用于反射和全透射以及直接透射測量，可以用來測量不同大小的樣品。儀器還可以水平或垂直擺放，這樣可以測量不同大小，不同形狀，不同透明狀態的各種樣品，增加了測量靈活性

• 遠程標準、試樣按鈕。遠程讀取按鈕允許用戶直接在 Color i5 儀器上觸發測量并將數據識別為標準或是試樣測量。樣品預覽功能允許用戶驗證樣品測量區域，在加速測量的同時避免錯誤。

• 獨特的 LED 狀態面板會在數據有風險時進行警告。允許用戶和監控人員快速驗證 Color i5 的狀態和配置

技術規格

重復精度：              （標準白板）* 最大值 0.03RMS ΔE CIELab
儀器間一致性：       0.15 ，平均值ΔE CIELab
光    源：                   脈沖氙燈，校準 D65
光譜范圍：               360 納米 – 750 納米
波長間隔：              10 納米

光度測定范圍：      0.0% 到 200% 反射率
光度測定分辨率：  0.01%
測量時間：               2.5秒
反射孔徑：               大孔徑 (LAV)   ：22毫米
                                   小孔徑 (SAV)   ：10毫米

     超小孔徑 (VSAV)：6 毫米

全透射孔徑：           大孔徑 (LAV)   ：22毫米
                                    小孔徑 (SAV)   ：10毫米

     超小孔徑 (VSAV)：6 毫米

直接透射：                22毫米

光學配置：               三光束，散射8°，6英寸積分球，2D CCD陣列/全息光柵

尺    寸：                    高度 25 厘米（10 英寸）
寬度 23 厘米（9英寸）
深度 47 厘米（18 英寸）

重    量：                    12公斤

操作溫度：                10? C - 35? C

相對濕度（操作）:   20% – 80%，不冷凝

電力要求：               100到240VAC / 50 - 60 Hz

接    口：                   USB / RS-232

NetProfiler：           嵌入式

特別功能：                同時進行 SCI/SCE測量，自動 UV 及鏡頭調節，數字簽名，嵌入式 NetProfiler，水平或垂直測量

* 相對于實驗室條件下愛色麗標準值， BCRA 瓷磚標準的平均 DE 值，LAV，22攝氏度。規格更改不另通知。